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美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学
2017-03-02 16:13:32   来源:   评论:0 点击:

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美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学 
201349号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品在于其他美国,日本厂家的仪器进行比较之后,认为美国CDE的性能指标优越,最终中标上海交通大学项目。
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提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换能使用可支持自动Loader300mm 机台可使用Front End,最多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。
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